掃描電子顯微鏡（SEM）的應用
它用于各種*域，包括工業用途，納米科學研究，生物醫學研究，微生物學
- 用于能量色散X射線光譜學中的點化學分析。
- 用于分析很小的化妝品成分。
- 用于研究微生物的細絲結構。
- 用于研究工業中使用的元素的地形。
掃描電子顯微鏡（SEM）的優勢
- 它們易于操作并且具有用戶友好的界面。
- 它們在各種工業應用中用于分析固體物體的表面。
- 一些現代SEM能夠生成可移植的數字數據。
- 在大約5分鐘的短時間內，很容易從SEM獲取數據。
局限性
- 他們購買非常昂貴
- 它們體積龐大
- 它們必須在沒有振動和電磁元素的房間中使用
- 必須保持一致的電壓
- 他們應保持接觸冷卻系統
掃描電子顯微鏡（SEM）和透射電子顯微鏡（TEM）的工作原理相結合，形成了掃描透射電子顯微鏡（STEM）。掃描透射電子顯微鏡（STEM）使用會聚電子束聚焦在樣品上的探針上，然后在其表面上掃描探針，收集信號，然后將其作為點對點收集以形成圖像。
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