掃描電子顯微鏡（SEM）的應(yīng)用
它用于各種*域，包括工業(yè)用途，納米科學(xué)研究，生物醫(yī)學(xué)研究，微生物學(xué)
- 用于能量色散X射線光譜學(xué)中的點(diǎn)化學(xué)分析。
- 用于分析很小的化妝品成分。
- 用于研究微生物的細(xì)絲結(jié)構(gòu)。
- 用于研究工業(yè)中使用的元素的地形。
掃描電子顯微鏡（SEM）的優(yōu)勢
- 它們易于操作并且具有用戶友好的界面。
- 它們在各種工業(yè)應(yīng)用中用于分析固體物體的表面。
- 一些現(xiàn)代SEM能夠生成可移植的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。
- 在大約5分鐘的短時(shí)間內(nèi)，很容易從SEM獲取數(shù)據(jù)。
局限性
- 他們購買非常昂貴
- 它們體積龐大
- 它們必須在沒有振動(dòng)和電磁元素的房間中使用
- 必須保持一致的電壓
- 他們應(yīng)保持接觸冷卻系統(tǒng)
掃描電子顯微鏡（SEM）和透射電子顯微鏡（TEM）的工作原理相結(jié)合，形成了掃描透射電子顯微鏡（STEM）。掃描透射電子顯微鏡（STEM）使用會(huì)聚電子束聚焦在樣品上的探針上，然后在其表面上掃描探針，收集信號(hào)，然后將其作為點(diǎn)對點(diǎn)收集以形成圖像。
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